瓦里安電感耦合等離子體發射光譜儀VISTA-MPX介紹：

Vista MPX ICP-MPX 瓦(wa)里(li)安新(xin)一代全譜(pu)(pu)(pu)直(zhi)讀(du)等離(li)子體發(fa)(fa)射(she)(she)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜(pu)(pu)(pu) ICP-MPX能(neng)(neng)(neng)(neng)分(fen)析(xi)的(de)(de)(de)(de)元(yuan)(yuan)素 多道(dao)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜(pu)(pu)(pu)儀(yi)(yi) 多道(dao)ICP 單道(dao)掃(sao)描ICP 優(you)點: 速度(du)快(kuai) 靈活 效(xiao)(xiao)率高(gao) 易(yi)于建立方法 缺點: 死(si)板 速度(du)慢(man), 消耗成(cheng)本(ben)高(gao) 扣背景(jing)不準(zhun)確(que) 精度(du)較差 共同缺點: 背景(jing)和信號不能(neng)(neng)(neng)(neng)同時測(ce)(ce)定, 存在(zai)時間誤差 扣背景(jing)速度(du)慢(man) Echelle optics 光(guang)(guang)(guang)(guang)學原(yuan)理 Echellogram Continuous spectrum 連續式(shi)(shi)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜(pu)(pu)(pu) 全譜(pu)(pu)(pu)直(zhi)讀(du)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)器單元(yuan)(yuan) ——固(gu)體檢(jian)(jian)測(ce)(ce)器 目前在(zai)ICP-MPX中所(suo)使(shi)用(yong)(yong)的(de)(de)(de)(de)固(gu)體檢(jian)(jian)測(ce)(ce)器都是(shi)光(guang)(guang)(guang)(guang)敏(min)(min)半導體檢(jian)(jian)測(ce)(ce)器，有：CID和CCD CID （電(dian)荷注入型(xing)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)器）：量子化(hua)效(xiao)(xiao)率低，噪音(yin)比CCD高(gao)，多年(nian)來在(zai)硬件(jian)上(shang)無防溢(yi)出設計(ji),因此存在(zai)嚴重(zhong)的(de)(de)(de)(de)溢(yi)出問題(ti) CCD（電(dian)荷耦合型(xing)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)器）：技術(shu)非常成(cheng)熟，廣(guang)泛用(yong)(yong)于數碼技術(shu)上(shang)；已有多個(ge)廠家(jia)用(yong)(yong)于ICP-MPX的(de)(de)(de)(de)使(shi)用(yong)(yong)上(shang)；可靠的(de)(de)(de)(de)防溢(yi)出設計(ji) 因為(wei)是(shi)多個(ge)單元(yuan)(yuan)的(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)敏(min)(min)半導體材(cai)料，故都存在(zai)溢(yi)出問題(ti)：即當某(mou)個(ge)單元(yuan)(yuan)的(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)強度(du)特(te)別高(gao)時，產生(sheng)的(de)(de)(de)(de)大(da)(da)量電(dian)荷來不及被讀(du)出，從而導致(zhi)流(liu)到其它單元(yuan)(yuan)，使(shi)其它單元(yuan)(yuan)得到錯誤的(de)(de)(de)(de)結(jie)果。 瓦(wa)里(li)安新(xin)一代全譜(pu)(pu)(pu)直(zhi)讀(du)等離(li)子體發(fa)(fa)射(she)(she)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜(pu)(pu)(pu) Vista MPX ICP-MPX Vista MPX 功能(neng)(neng)(neng)(neng)特(te)點 *個(ge)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)器象素突破百萬的(de)(de)(de)(de)全譜(pu)(pu)(pu)直(zhi)讀(du)ICP 是(shi)分(fen)析(xi)速度(du)較快(kuai)的(de)(de)(de)(de)ICP光(guang)(guang)(guang)(guang)譜(pu)(pu)(pu)儀(yi)(yi),測(ce)(ce)定一個(ge)樣品無論(lun)多少元(yuan)(yuan)素僅需50秒。 堅固(gu)可靠、直(zhi)接耦合40MHz的(de)(de)(de)(de)高(gao)頻發(fa)(fa)生(sheng)器,即使(shi)是(shi)高(gao)鹽或(huo)有機樣品也能(neng)(neng)(neng)(neng)保證(zheng)穩定炬焰(yan)，不易(yi)熄火、不易(yi)積鹽 高(gao)分(fen)辨率、高(gao)光(guang)(guang)(guang)(guang)通量的(de)(de)(de)(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)學系統 的(de)(de)(de)(de)整(zheng)體分(fen)析(xi)性能(neng)(neng)(neng)(neng)高(gao)靈敏(min)(min)度(du)、低檢(jian)(jian)出限，短期精度(du)優(you)于0.5%，長期精度(du) RSD <1% (20小(xiao)時） 功能(neng)(neng)(neng)(neng)強大(da)(da)、使(shi)用(yong)(yong)較方便的(de)(de)(de)(de)工作站軟件(jian)--ICP光(guang)(guang)(guang)(guang)譜(pu)(pu)(pu)分(fen)析(xi)的(de)(de)(de)(de)專家(jia) 片段式(shi)(shi)CCD （SCD） CID (Charge Injection Device) CCD 器件(jian)在(zai)光(guang)(guang)(guang)(guang)學儀(yi)(yi)器中的(de)(de)(de)(de)應(ying)用(yong)(yong) 孫(sun) 長 明 上(shang)海光(guang)(guang)(guang)(guang)學儀(yi)(yi)器研(yan)究(jiu)所(suo) 〔摘要〕近年(nian)來CCD應(ying)用(yong)(yong)技術(shu)的(de)(de)(de)(de)發(fa)(fa)展(zhan)尤(you)為(wei)引(yin)人注目，CCD器件(jian)已顯示了突出的(de)(de)(de)(de)功效(xiao)(xiao)，在(zai)光(guang)(guang)(guang)(guang)學儀(yi)(yi)器領域得到廣(guang)泛的(de)(de)(de)(de)應(ying)用(yong)(yong)。

瓦里安電感耦合等離子體發射光譜儀VISTA-MPX配(pei)置：