三重四級桿液質聯用儀工作(zuo)原理：
離(li)子源：產(chan)生(sheng)離(li)子化，并將產(chan)生(sheng)的離(li)子在電場(chang)的作用下進入(ru)毛細管。
毛(mao)細管(guan)：離(li)子導入通道，將離(li)子源產生(sheng)的離(li)子傳輸(shu)進入質譜。同時隔離(li)外部的常(chang)壓和質譜內部的高(gao)真(zhen)空。
離(li)子(zi)光學組(zu)(zu)件：包括Skimmer1，八級桿以(yi)及(ji)Lens1和Lens2。進(jin)(jin)一步去除溶劑(ji)和中(zhong)性分子(zi)，高效的離(li)子(zi)傳輸組(zu)(zu)件，并聚焦隨機(ji)運動(dong)的離(li)子(zi)進(jin)(jin)入(ru)四級桿。
四(si)級(ji)桿1(MS1)和四(si)級(ji)桿2(MS2)：質(zhi)(zhi)量過(guo)濾器，雙曲線的四(si)級(ji)桿優化離(li)子傳輸和質(zhi)(zhi)譜分(fen)辨(bian)率。可以選擇讓(rang)某些質(zhi)(zhi)荷比的離(li)子依次(ci)通過(guo)或(huo)者所(suo)有離(li)子全通過(guo)。
碰撞(zhuang)池(chi)(GC）：線性加速(su)的(de)高壓碰撞(zhuang)池(chi)。優(you)化質譜(pu)/質譜(pu)分裂(lie)，從而在一(yi)個短的(de)時間(jian)仍(reng)可消除交叉(cha)干(gan)擾。
檢測(ce)器：包括高能打能級(ji)和電子倍增(zeng)器。高增(zeng)益，壽(shou)命長，線性(xing)范圍(wei)寬。
三重四級桿液質聯用儀工作方式：
每個四級(ji)桿(gan)(gan)質(zhi)(zhi)(zhi)量(liang)分(fen)析(xi)器有三(san)種工作方式：離(li)(li)子(zi)全(quan)(quan)通(tong)過(guo)、掃描(miao)和離(li)(li)子(zi)選擇(ze)監測(ce)。全(quan)(quan)離(li)(li)子(zi)通(tong)過(guo)是(shi)(shi)(shi)指(zhi)四級(ji)桿(gan)(gan)不施加直流(liu)電(dian)壓，這樣就不過(guo)濾(lv)離(li)(li)子(zi)，所有帶(dai)電(dian)離(li)(li)子(zi)全(quan)(quan)部通(tong)過(guo)；掃描(miao)是(shi)(shi)(shi)指(zhi)在給(gei)定的質(zhi)(zhi)(zhi)荷(he)比范圍內，依(yi)次采(cai)(cai)集(ji)每個質(zhi)(zhi)(zhi)量(liang)數的信(xin)號；而選擇(ze)離(li)(li)子(zi)監測(ce)模式，只是(shi)(shi)(shi)采(cai)(cai)集(ji)的某個或某幾個質(zhi)(zhi)(zhi)荷(he)比的離(li)(li)子(zi)信(xin)號。兩(liang)個四級(ji)桿(gan)(gan)在空間上串聯起來，有常用的幾種工作方式：全(quan)(quan)掃描(miao)（Scan）、選擇(ze)離(li)(li)子(zi)監測(ce)（SIM）、子(zi)離(li)(li)子(zi)掃描(miao)（ProductIonScan）、多重反應監測(ce)（MRM）。
全(quan)掃描(miao)（SCAN）:MS1工作在(zai)離(li)子(zi)(zi)(zi)全(quan)通(tong)過(guo)狀(zhuang)態(tai)下，不過(guo)濾離(li)子(zi)(zi)(zi)，所有的帶電離(li)子(zi)(zi)(zi)全(quan)部(bu)通(tong)過(guo)；碰撞(zhuang)池不施(shi)加碰撞(zhuang)能量，不會(hui)把離(li)子(zi)(zi)(zi)撞(zhuang)碎；而MS2工作在(zai)掃描(miao)模式，可以得到待分析物(wu)質的一級質譜圖(tu)。
選(xuan)(xuan)擇離(li)(li)子(zi)監測(ce)（SIM）：MS1工作在(zai)全離(li)(li)子(zi)通(tong)過(guo)狀態下，不過(guo)濾離(li)(li)子(zi)，所有的(de)帶(dai)電離(li)(li)子(zi)全部通(tong)過(guo)；碰(peng)撞池不施(shi)加(jia)碰(peng)撞能量(liang)，不會把離(li)(li)子(zi)打(da)碎；而(er)MS2工作在(zai)SIM模(mo)式，可以(yi)得到選(xuan)(xuan)定的(de)離(li)(li)子(zi)的(de)一級質譜圖。
子(zi)離子(zi)掃描(miao)（ProductIonScan）:MS1使用SIM方(fang)式選擇某一(yi)個(ge)或多個(ge)質荷(he)比的母離子(zi)通(tong)過四級桿1，在(zai)(zai)碰撞(zhuang)池(chi)施加碰撞(zhuang)能量產生碎片離子(zi)，然后在(zai)(zai)MS2中掃描(miao)分析。
多重反應監(jian)測（MRM）:MS1使(shi)用(yong)SIM方式(shi)(shi)選擇某一個或多個質荷(he)比的(de)母離(li)子(zi)(zi)(zi)，在(zai)碰撞(zhuang)池產生碎片離(li)子(zi)(zi)(zi)。MS2同樣采用(yong)SIM方式(shi)(shi)來監(jian)測由母離(li)子(zi)(zi)(zi)產生的(de)一個或幾(ji)個特定(ding)的(de)子(zi)(zi)(zi)離(li)子(zi)(zi)(zi)。這種(zhong)方式(shi)(shi)可以極大(da)提高檢(jian)測靈敏(min)度和定(ding)量準確性。是三級(ji)四級(ji)桿最主要的(de)工作方式(shi)(shi)。
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